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全國半導體器件標準化技術委員會及分立器件分技術委員會2024年年會成功舉辦

來源:     作者:張潔     發布時間:2024年11月04日     瀏覽次數:         

  2024年10月30日至11月1日,第四屆全國半導體器件標準化技術委員會(SAC/TC78)及半導體分立器件標準化分技術委員會(SAC/TC78/SC1)在合肥成功舉辦了2024年年會暨標準審查會。此次會議集結了包括標委會委員、觀察員、國家及行業標準起草人員在內的105位行業精英,共同回顧一年來的工作成就,分析面臨的挑戰,并展望未來發展方向。

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  會議由秘書處承擔單位中國電科產業基礎研究院質量部副主任鐘鑫主持。會議伊始,標委會副主任委員張宏圖、合肥高新區管委會副主任許永、合肥市市場監管局副局長許景高發表了致辭。

  標委會副主任委員、中國電科產業基礎研究院副院長吳景峰代表秘書處承擔單位致辭。吳景峰全面回顧了2024年秘書處開展的主要工作,對過去一年全體成員的辛勤付出表示感謝。吳景峰指出,我院承擔標委會秘書處工作至今已有38年,在新的歷史時期將肩負其新的使命,堅持戰略引領,將標準化打造成發揮科技創新、產業控制和安全支撐作用的重要抓手。要繼續做好秘書處的資源保障工作,在國標委、工信部和主任委員的領導和帶領下,發揮好秘書處的作用,推動半導體產業的高質量發展。

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  會上,分標委秘書長、我院質量部陳海蓉代表秘書處做了2024年工作報告。質量部張麗靜對標委會標準體系結構和審查安排進行了介紹,IEC TC47國內技術對口單位國際標準化工作主管、質量部李麗霞對IEC TC47和SC47E國際標準熱點領域進行分享。

  會議共對49項國家標準和1項行業標準的送審稿進行審查。審查標準中由我院牽頭起草標準共11項,分別屬于半導體器件的長期貯存、半導體器件機械和氣候試驗方法、能量收集和產生半導體器件及半導體激光器等領域的標準,11項標準送審稿全部順利通過審查,待修改完善后提交報批材料。

  經過三天緊張而有序的議程安排,本次年會圓滿完成了各項預定任務并達到了預期目標。標委會將繼續秉持嚴謹、科學、創新的精神,為推動半導體產業的高質量發展貢獻更多的智慧和力量。

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